上传于:2023-10-17 14:37:34
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半导体芯片测试探针的成型装置。包括有半导体芯片测试探针(1),还包括有离心转台(2)、下模具(3)、上模具(4)、注料机构(5)、下压机构(6)、行位机构(7)和切断机构(8),若干个下模具(3)和上模具(4)均绕着离心转台(2)的轴线环形分布,下压机构(6)竖直设置在离心转台(2)的正上方,若干组行位机构(7)分别设置在若干个下模具(3)上,切断机构(8)设置在离心转台(2)和下压机构(6)之间...

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