上传于:2023-10-17 14:48:16
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半导体晶圆缺陷检测设备:能够实现对晶圆表面的详细观察和分析。它具有自动化的缺陷检测功能,可以通过图像处理和计算机视觉技术,快速准确地检测出晶圆表面上的各种缺陷,如划痕、凹凸、颗粒、孔洞等。

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